L'image peut être une représentation.
Voir les spécifications pour les détails du produit.
Voir les spécifications pour les détails du produit.
SN74LVTH182512DGGR
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Numéro d'article
SN74LVTH182512DGGR
Fabricant/Marque
Série
74LVTH
Statut de la pièce
Active
Emballage
Cut Tape (CT)
Température de fonctionnement
-40°C ~ 85°C
Type de montage
Surface Mount
Colis/Caisse
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Package d'appareil du fournisseur
64-TSSOP
Tension d'alimentation
2.7 V ~ 3.6 V
Nombre de bits
18
Type logique
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Citation requise
Veuillez remplir tous les champs obligatoires et cliquez sur "SOUMETTRE", nous vous contacterons dans les 12 heures par e-mail. Si vous avez un problème, veuillez laisser des messages ou un e-mail à [email protected], nous vous répondrons dans les plus brefs délais.
En stock 17539 PCS
Coordonnées
Produits connexes
Mots-clés de SN74LVTH182512DGGR
SN74LVTH182512DGGR Composants électroniques
SN74LVTH182512DGGR Ventes
SN74LVTH182512DGGR Fournisseur
SN74LVTH182512DGGR Distributeur
SN74LVTH182512DGGR Tableau de données
SN74LVTH182512DGGR Photos
SN74LVTH182512DGGR Prix
SN74LVTH182512DGGR Offre
SN74LVTH182512DGGR Prix le plus bas
SN74LVTH182512DGGR Recherche
SN74LVTH182512DGGR Achat
SN74LVTH182512DGGR Chip